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任中京教授受邀參加2013年SAC/TC168顆粒分技術(shù)委員會(huì)年會(huì)
更新時(shí)間:2013-11-04 點(diǎn)擊次數(shù):2041
全國(guó)顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標(biāo)委會(huì)顆粒分技術(shù)委員會(huì)(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“分委會(huì)”)年會(huì)于10月19日-21日在安徽池州召開(kāi)。會(huì)議由國(guó)家非金屬礦深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心承辦,共有28名委員和代表參會(huì)。會(huì)議討論了立項(xiàng)項(xiàng)目的擬定標(biāo)準(zhǔn)及其顆粒分析技術(shù)在國(guó)內(nèi)的適用性、應(yīng)用領(lǐng)域、標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)的適宜性以及與標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)系等。
作為全國(guó)顆粒測(cè)試技術(shù)的者濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司的董事長(zhǎng)任中京教授受邀參加了此次會(huì)議。任中京教授從事激光顆粒分析理論與技術(shù)研究工作30年有余。期間主持并完成國(guó)家省部科技攻關(guān)項(xiàng)目4項(xiàng)。發(fā)表論文60余篇,其中收入美國(guó)工程索引(EI)研究論文20余篇,在顆粒學(xué)研究領(lǐng)域享有很高聲譽(yù)。
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