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導(dǎo)致納米激光粒度儀數(shù)據(jù)漂移的常見(jiàn)問(wèn)題

更新時(shí)間:2016-10-10 點(diǎn)擊次數(shù):1517
     納米激光粒度儀的探測(cè)器采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管(PMT),對(duì)光子信號(hào)具有*的靈敏度和信噪比,從而保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度;使用PCS技術(shù)測(cè)定納米級(jí)顆粒大小,必須能夠分辨納秒級(jí)信號(hào)起伏。本儀器的核心部件采用微納公司研制的CR140數(shù)字相關(guān)器,具有識(shí)別8ns的*分辨能力和*的信號(hào)處理速度,因此可以得到準(zhǔn)確的測(cè)定結(jié)果。
    納米激光粒度儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù),根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快,大顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度慢,激光照射這些顆粒,不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理先進(jìn)、精度*的特點(diǎn),從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性,2009年推向國(guó)內(nèi)市場(chǎng),是國(guó)內(nèi)*臺(tái)納米激光粒度儀,也是國(guó)內(nèi)技術(shù)zui成熟的激光粒度儀。
    導(dǎo)致納米激光粒度儀數(shù)據(jù)漂移的常見(jiàn)問(wèn)題:
    1、鏡頭和測(cè)試窗口玻璃污染
    光學(xué)儀器的鏡頭污染是常見(jiàn)故障。激光粒度儀作為粉體檢測(cè)設(shè)備,常常會(huì)面對(duì)多塵環(huán)境,測(cè)試窗口鏡片則是會(huì)直接接觸粉體樣品的光學(xué)器件。聚焦透鏡或者準(zhǔn)直透鏡等光學(xué)鏡片受到使用環(huán)境中的浮塵污染或者發(fā)生霉菌污染,會(huì)使純凈的測(cè)量光束產(chǎn)生雜散光。這些雜散光會(huì)混入樣品的散射光中干擾測(cè)試;測(cè)量窗口鏡片上的污染物則會(huì)直接產(chǎn)生較強(qiáng)的散射光。因此,光學(xué)鏡片污染是激光粒度儀測(cè)試結(jié)果漂移的首要元兇。應(yīng)對(duì)辦法主要是盡量讓儀器處于干燥無(wú)塵的工作環(huán)境。經(jīng)常按照操作規(guī)程清洗鏡片,保證光學(xué)鏡片的清潔。
    2、激光光路偏移
    激光器是會(huì)發(fā)熱的器件,工作周期內(nèi),它們會(huì)周而復(fù)始的發(fā)熱-降溫-發(fā)熱。任何物體都會(huì)有熱脹冷縮現(xiàn)象,幾何尺寸會(huì)隨溫度變化而變化。而激光粒度儀光路裝配精度要求非常高,隨著儀器使用周期延長(zhǎng),光路幾乎不可避免的會(huì)出現(xiàn)偏移現(xiàn)象。光路偏移,會(huì)導(dǎo)致測(cè)量光束光能衰減、探測(cè)器排布角度發(fā)生漂移,從而導(dǎo)致測(cè)量數(shù)據(jù)漂移。應(yīng)對(duì)這個(gè)問(wèn)題主要靠?jī)x器制造商從儀器設(shè)計(jì)上盡量減少出現(xiàn)光路偏移的可能性,同時(shí)定期校準(zhǔn)光路也是非常重要的辦法。
    3、進(jìn)樣系統(tǒng)的循環(huán)、分散效能波動(dòng)
    這個(gè)環(huán)節(jié)導(dǎo)致的數(shù)據(jù)漂移比較隱蔽,所以容易被忽視。樣品循環(huán)系統(tǒng)使用的介質(zhì)特性、介質(zhì)流速(干法儀器而言則是氣壓和氣流量)、超聲分散設(shè)備的工況、水泵轉(zhuǎn)速這幾個(gè)要點(diǎn)會(huì)明顯影響測(cè)試數(shù)據(jù),需要細(xì)心關(guān)注。
    4、光電探測(cè)器及其放大電路參數(shù)漂移
    這類問(wèn)題應(yīng)該屬于儀器制造質(zhì)量水平問(wèn)題,,一般來(lái)說(shuō)任何電子電路和光電探測(cè)器都有工況漂移問(wèn)題,差別只是漂移量不同。這類問(wèn)題通常儀器用戶自己是無(wú)法解決的,需要儀器制造商對(duì)儀器進(jìn)行專門的電路工況系數(shù)校準(zhǔn)。某些高水平的儀器,能夠自行校準(zhǔn)自身電路工況漂移。
    5、測(cè)量參數(shù)、測(cè)量條件變動(dòng)
    分析模型、樣品測(cè)量參數(shù)、測(cè)試環(huán)境(例如濕度、測(cè)試介質(zhì)溫度等)都有可能影響測(cè)試數(shù)據(jù)。我們首先要保證測(cè)試的分析模型、樣品測(cè)量參數(shù)(特別是樣品折射率)選擇正確。測(cè)試環(huán)境的影響,視不同樣品和儀器工作環(huán)境不同,影響也差別很大,很難簡(jiǎn)單舉例說(shuō)明。需要具體情況具體分析。

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