微納淺析從篩分法、圖像法、電阻法來看激光粒度儀
更新時(shí)間：2015-08-04 點(diǎn)擊次數(shù)：1985
粒度儀的篩分法是一種zui傳統(tǒng)的粒度測試方法。它是讓顆粒通過不同尺寸的篩孔來測試粒度的。篩分法會(huì)分為干篩和濕篩兩種形式，不僅可以用單個(gè)篩子來控制單一的粒徑顆粒的通過率，也可以用多個(gè)篩子來疊加用來同時(shí)測量多個(gè)粒徑顆粒的通過率，并計(jì)算出百分?jǐn)?shù)。篩分法有手工篩、振動(dòng)篩、負(fù)壓篩、還有全自動(dòng)篩等多種方式。顆粒是不是能夠通過篩子與顆粒的取向和篩分時(shí)間等素因素有關(guān)，不同的行業(yè)會(huì)有各自的篩分方法標(biāo)準(zhǔn)。
激光粒度儀顯微圖象法包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數(shù)碼像機(jī))、圖形采集卡、計(jì)算機(jī)等幾個(gè)部分組成。它的基本工作原理就是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，由計(jì)算機(jī)對這些圖像進(jìn)行邊緣識(shí)別等處理，計(jì)算出每個(gè)顆粒的投影面積，根據(jù)等效投影面積原理得出每個(gè)顆粒的粒徑，再統(tǒng)計(jì)出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量，就可以得到粒度分布了。由于這種方法單次所測到的顆粒個(gè)數(shù)較少，對同一個(gè)樣品可以通過更換視場的方法進(jìn)行多次測量來提高測試結(jié)果的真實(shí)性。除了進(jìn)行粒度測試之外，顯微圖象法還常用來觀察和測試顆粒的形貌。
激光粒度儀電阻法又叫庫爾特法，是由美國一個(gè)叫庫爾特的人發(fā)明的一種粒度測試方法。這種方法是根據(jù)顆粒在通過一個(gè)小微孔的瞬間，占據(jù)了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導(dǎo)電液體，使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當(dāng)不同大小的粒徑顆粒連續(xù)通過小微孔時(shí)，小微孔兩端將連續(xù)產(chǎn)生不同大小的電阻信號，通過計(jì)算機(jī)對這些電阻信號進(jìn)行處理就可以得到粒度分布。用庫爾特法進(jìn)行粒度測試所用的介質(zhì)通常是導(dǎo)電性能較好的生理鹽水。
濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司——一直以“發(fā)展與普及當(dāng)代的顆粒測試技術(shù)"為己任，研制的濕法、干法、醫(yī)用噴霧、工業(yè)噴霧等系列的激光粒度測試設(shè)備，均代表了國內(nèi)同行業(yè)的zui高水平。
